校準(zhǔn)前準(zhǔn)備

1. 環(huán)境條件：確保校準(zhǔn)環(huán)境溫度在 23℃±5℃ ，相對濕度在 45% - 75% RH 范圍內(nèi)，且周圍無強(qiáng)磁場、電場干擾及機(jī)械振動。

2. 標(biāo)準(zhǔn)器具：準(zhǔn)備經(jīng)國家計量部門校準(zhǔn)合格且在有效期內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)磁場源，如標(biāo)準(zhǔn)電磁鐵或亥姆霍茲線圈，其磁場精度應(yīng)高于 TM - 4300 預(yù)期校準(zhǔn)精度的 3 - 5 倍。同時準(zhǔn)備高精度的高斯計作為參考標(biāo)準(zhǔn)，用于對比測量。

3. 儀器預(yù)熱：將 TM - 4300 接通電源，預(yù)熱 30 - 60 分鐘，使儀器達(dá)到穩(wěn)定工作狀態(tài)。

校準(zhǔn)步驟

1. 水平軸（X 軸）校準(zhǔn)

• 連接與定位：將探頭的 X 軸方向與標(biāo)準(zhǔn)磁場源的磁場方向嚴(yán)格平行對齊?？梢允褂脵C(jī)械夾具或定位裝置輔助確保精確對準(zhǔn)。

• 測量與記錄：通過標(biāo)準(zhǔn)磁場源產(chǎn)生一系列已知強(qiáng)度的磁場，例如從 0 mT 開始，以 10 mT 為增量，逐步增加到 100 mT 。在每個磁場強(qiáng)度點，使用 TM - 4300 測量并記錄顯示值，同時使用參考高斯計測量并記錄實際磁場值。

• 數(shù)據(jù)處理：計算每個測量點 TM - 4300 的測量值與參考高斯計測量的實際值之間的偏差。例如，若參考高斯計測量值為 50 mT，TM - 4300 顯示值為 50.5 mT，則偏差為 0.5 mT 。繪制偏差曲線，以磁場強(qiáng)度為橫坐標(biāo)，偏差值為縱坐標(biāo)。

• 校準(zhǔn)調(diào)整：根據(jù)偏差曲線，若偏差超出儀器規(guī)定的允許誤差范圍（如 ±1%），通過儀器自帶的校準(zhǔn)功能，如在菜單中找到 X 軸校準(zhǔn)選項，輸入修正系數(shù)進(jìn)行調(diào)整。修正系數(shù)計算方法為：實際值 / 測量值。例如，測量值為 50.5 mT，實際值為 50 mT，則修正系數(shù)為 50 / 50.5 ≈ 0.99。輸入該修正系數(shù)后，再次測量驗證，直至偏差在允許范圍內(nèi)。

2. 垂直軸（Y 軸）校準(zhǔn)

• 改變方向與重復(fù)操作：將探頭旋轉(zhuǎn) 90°，使 Y 軸與標(biāo)準(zhǔn)磁場源的磁場方向平行。重復(fù) X 軸校準(zhǔn)的測量、記錄、數(shù)據(jù)處理和校準(zhǔn)調(diào)整步驟，完成 Y 軸校準(zhǔn)。

3. 第三軸（Z 軸）校準(zhǔn)

• 再次旋轉(zhuǎn)與校準(zhǔn)：再次將探頭旋轉(zhuǎn) 90°，使 Z 軸與標(biāo)準(zhǔn)磁場源的磁場方向平行。同樣重復(fù)上述完整的校準(zhǔn)流程，完成 Z 軸校準(zhǔn)。

校準(zhǔn)后驗證

1. 全量程驗證測量：校準(zhǔn)完成后，使用標(biāo)準(zhǔn)磁場源產(chǎn)生覆蓋儀器全量程的多個不同磁場強(qiáng)度值，如 0 mT、20 mT、50 mT、80 mT、100 mT ，在每個值處用校準(zhǔn)后的 TM - 4300 進(jìn)行測量，并與參考高斯計測量值對比。

2. 精度確認(rèn)：計算各測量點的偏差，確認(rèn)所有偏差均在儀器規(guī)定的精度范圍內(nèi)。若有偏差超出范圍，需重新檢查校準(zhǔn)步驟或考慮儀器硬件是否存在故障。

校準(zhǔn)記錄與報告

1. 詳細(xì)記錄：在整個校準(zhǔn)過程中，詳細(xì)記錄校準(zhǔn)日期、校準(zhǔn)環(huán)境條件、標(biāo)準(zhǔn)器具信息、各軸測量數(shù)據(jù)、偏差計算結(jié)果、校準(zhǔn)調(diào)整過程及最終驗證結(jié)果等。

2. 生成報告：根據(jù)記錄內(nèi)容，生成正式的校準(zhǔn)報告。報告應(yīng)包含儀器基本信息、校準(zhǔn)依據(jù)、校準(zhǔn)過程、校準(zhǔn)結(jié)果及結(jié)論等內(nèi)容，校準(zhǔn)報告需經(jīng)校準(zhǔn)人員簽字確認(rèn)，并加蓋校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)相關(guān)印章。