在半導體 3nm 制程量產(chǎn)、液晶面板 8K 分辨率普及的時代，0.2μm 的劃痕、微米級氣泡、隱性 Mura 缺陷，都可能引發(fā)整批產(chǎn)品返工、百萬級損失。日本山田光學 YP-150ID 強光燈，以 40 年工業(yè)光學沉淀的硬核技術，成為半導體液晶產(chǎn)線的 “火眼金睛"，讓微米級缺陷無所遁形，為良率筑牢一道防線！
?? 核心價值：三大維度破解行業(yè)痛點
? 精準，零漏檢的 “光學標尺"
400,000 Lux 超高照度（30mmφ 照射面），搭配 3400K 穩(wěn)定鹵素光源，照度波動趨近于零，精準識別晶圓劃痕、液晶基板異物、CMP 后研磨不均等 0.2μm 級缺陷，檢測準確率媲美專業(yè)探測儀，將人工漏檢率從 6% 以上壓縮至行業(yè)超低水平。無論是光刻前表面檢查、彩色濾光片檢測，還是封裝前最終質(zhì)檢，都能實現(xiàn) “所見即所得" 的量化標準，統(tǒng)一全產(chǎn)線檢測規(guī)范。
? 冷鏡黑科技，溫度敏感樣品的 “安全屏障"
半導體晶圓、液晶基板對溫度變化極度敏感，傳統(tǒng)強光燈的熱輻射易導致樣品變形、性能衰減。YP-150ID 搭載專屬冷鏡技術，熱影響僅為傳統(tǒng)設備的 1/3，可安全應用于光刻工藝、晶圓封裝等嚴苛環(huán)節(jié)，杜絕熱損傷引發(fā)的良率損耗，讓精密樣品檢測 “0風險"。
? 高效適配，24 小時產(chǎn)線的 “靈活戰(zhàn)友"
?? 不止是檢測工具，更是成本優(yōu)化利器
選擇 YP-150ID，等同于用親民投入替代高價精密探測儀，降低設備采購成本；通過減少誤檢漏檢、避免熱損傷返工，單廠年節(jié)約質(zhì)量損失超 200 萬元；配合 AI 缺陷檢測系統(tǒng)，更可實現(xiàn) 7×24 小時無人化質(zhì)檢，替代 90% 人工崗位，年省人力成本超千萬元。
從臺積電等頭部企業(yè)的制程升級，到中小面板廠的產(chǎn)線迭代，YP-150ID 以 “精準、安全、高效" 的核心優(yōu)勢，成為半導體液晶行業(yè)的信賴之選。40 年市場驗證的可靠性，讓每一臺設備都成為產(chǎn)線良率的 “穩(wěn)定器"，技術迭代的 “加速器"。
